Линейные сканирующие объективы 16K3.5μ V-Mount оптимизированы для приложений сверхвысокого разрешения, обеспечивая точное 16K-изображение с мелким размером пикселя 3.5μ. Разработанные для отраслей, требующих тщательной детализации, таких как инспекция полупроводников, FPD и PCB, эти объективы обеспечивают превосходную четкость изображения с минимальными искажениями. Конструкция V-Mount гарантирует надежную и простую установку, обеспечивая совместимость с высокопроизводительными линейными сканирующими камерами. Идеально подходят для сред, где скорость и точность имеют первостепенное значение, линейные сканирующие объективы 16K3.5μ V-Mount предлагают исключительные оптические характеристики, позволяя эффективно и надежно обнаруживать дефекты в передовых системах инспекции.
Основные характеристики
■ Инспекция FPD/PCB
■ Инспекция в текстильной промышленности
■ Инспекция железнодорожных путей, а также автоматическая оптическая инспекция и обнаружение микродетектов
Спецификация
| Модель |
EFL
|
Увел.
|
Апертура
|
FBL
|
|---|---|---|---|---|
|
VTL-9040-0.1X
|
90mm
|
0.1x
|
F4.0
|
82.7mm
|
|
VTL-9540-0.05X
|
95mm |
0.05x
|
F4.0
|
81.2mm
|
|
VTL-16K-0.26X
|
114mm
|
0.26x
|
F4.2
|
128.3mm
|
|
VTL-16K-0.33X
|
116mm
|
0.33x
|
F4.2
|
137mm
|
|
VTL-16K-0.42X
|
116mm
|
0.42x
|
F3.8
|
144.5mm
|
|
VTL-16K-0.5X
|
116mm
|
0.5x
|
F3.8
|
153.3mm
|
|
VTL-16K-0.67X
|
116mm
|
0.67x
|
F3.8
|
170.2mm
|
|
VTL-16K-0.7X
|
116mm
|
0.7x
|
F3.8
|
174.4mm
|
|
VTL-16K-0.75X
|
100mm
|
0.75x
|
F3.8
|
180.5mm
|
|
VTL-16K-1.0X
|
116mm
|
1.0x
|
F3.5
|
209.47mm
|
