Линейные сканирующие объективы 16K5μ созданы для высокоточного формирования изображений, обеспечивая разрешение 16K с размером пикселя 5μ для захвата исключительной детализации в критически важных приложениях инспекции. Разработанные для использования в таких отраслях, как FPD, PCB и инспекция полупроводников, эти объективы обеспечивают четкие изображения без искажений во всем поле зрения, гарантируя точность при обнаружении дефектов. Благодаря прочной конструкции, подходящей для высокоскоростных линейных сканирующих камер, линейные сканирующие объективы 16K5μ идеальны для динамичных сред, требующих формирования изображений высокого разрешения и надежной производительности, повышая качество и эффективность продвинутых систем инспекции.
Основные характеристики
■ Инспекция FPD/PCB
■ Инспекция в текстильной промышленности
■ Инспекция железнодорожных путей, а также автоматическая оптическая инспекция и обнаружение микродетектов
| Модель |
EFL
|
Увеличение
|
WD
|
Апертура
|
|---|---|---|---|---|
|
VTL-16KP-0.26X
|
120
|
0.26x
|
663.4
|
F4.0
|
|
VTL-16KP-0.3X
|
120
|
0.3x
|
534.64
|
F4.0
|
|
VTL-16KP-0.5X
|
120
|
0.5x
|
390.66
|
F4.0
|
|
VTL-16KP0.625X
|
116 |
0.625x
|
245.9
|
F3.8
|
|
VTL-16KP-1.3X
|
116 |
1.33x
|
156.3
|
F3.8
|
|
VTL-16KP-1.5X
|
116 |
1.5x
|
143.9
|
F3.8
|
|
VTL-16KP-1.7X
|
116 |
1.7x
|
137.8
|
F3.8
|
|
VTL-16KP-2.0X
|
120
|
2.0x
|
127.2
|
F4.0
|
|
VTL-16KP-3.0X
|
116 |
3.0x
|
111.4
|
F4.0
|
|
VTL-16KP-3.0X-L
|
120
|
3.0x
|
143.02
|
F4.0
|
Скачивание объективов FA
