Линейные сканирующие объективы с креплением M42 5.5K5μ обеспечивают непревзойденную точность формирования изображения с разрешением 5.5K и размером пикселя 5μ, оптимизированные для приложений инспекции с высокой детализацией. С низким коэффициентом дисторсии -0.61% и широким форматом Ø30 эти объективы обеспечивают точное формирование изображения, что идеально подходит для отраслей, таких как инспекция PCB и FPD. Минимальное рабочее расстояние 574мм и оптимальный диапазон 600-700мм обеспечивают универсальность в различных конфигурациях. Крепление M42 позволяет легко интегрировать их в промышленные системы, делая эти объективы исключительным выбором для четкой, свободной от искажений и высокодетализированной инспекции.
Основные характеристики
■ Инспекция FPD/PCB
■ Инспекция в текстильной промышленности
■ Инспекция железнодорожных путей, а также автоматическая оптическая инспекция и обнаружение микроскопических дефектов
Спецификация
Разрешение:5.5K5μ
Формат:Ø30
Дисторсия:-0.61%
Мин. рабочее расстояние:574мм
Оптимальное рабочее расстояние:600-700мм
Крепление:M42-mount
| Модель |
EFL
|
Увеличение
|
Апертура
|
FBL
|
|---|---|---|---|---|
|
VTL-5.5K-0.1X-A
|
50мм
|
0.0946x
|
F2.8
|
12мм
|
|
VTL-5.5K-0.1X-B
|
50мм
|
0.0946x
|
F2.8
|
5.9мм
|
|
VTL-5.5K-0.09X-A
|
50мм |
0.094x
|
F4.0
|
12мм
|
|
VTL-5.5K-0.09X-B
|
50мм |
0.094x
|
F4.0
|
5.9мм
|
