Описание
Характеристики
Отзывы
Описание
Описание продукта
Серия объективов большого формата 100MP разработана для промышленных камер сверхвысокого разрешения, поддерживая требовательные приложения AOI, инспекции полупроводников, прецизионной метрологии и машинного зрения на больших площадях.
С фокусными расстояниями от 35mm до 80mm, серия поддерживает форматы больших сенсоров и обеспечивает изображение высокого разрешения с низкой дисторсией. Доступны с байонетами F и M72, эти объективы оптимизированы для систем изображения 100MP, требующих точного и стабильного качества изображения.
Ключевые особенности
- Изображение высокого разрешения 100MP
- Поддержка сенсоров большого формата
- Фокусные расстояния 35–80mm
- Низкая оптическая дисторсия
- Байонеты F / M72
Области применения
- Инспекция полупроводников
- PCB & Инспекция AOI
- Прецизионная метрология
- Машинное зрение на больших площадях
- Инспекция промышленного оборудования высокого разрешения
Спецификации
| Модель | EFL | F/# | Формат | WD | Байонет |
|---|---|---|---|---|---|
| VT-LEMF3528MP100 | 35mm | F2.8 | Ø46mm | — | F |
| VT-LEN72-4056MP100 | 40mm | — | Ø67mm | 144–1043 | M72 |
| VLEN72-4040MP100 | 40mm | F4.0 | Ø58mm | 200–∞ | M72 |
| VT-LEMF5040MP100 | 50mm | F4.0 | Ø56mm | 150–∞ | F |
| VT-LEN72-6040MP100 | 60mm | F4.0 | Ø60mm | 300–550 | M72 |
| VT-LEMF8040MP100 | 80mm | F4.0 | Ø56mm | 235–∞ | F |
Скачивание объектива с байонетом F/T
Характеристики
Бренд
Contrastech
Отзывы
Отзывов еще никто не оставлял
