Объектив для машинного зрения большого формата 65 Мп
Описание продукта
Разработанный для высококачественной промышленной визуализации, этот объектив для машинного зрения большого формата 65 Мп оптимизирован для камер с большой площадью сканирования и линейных сканеров, обеспечивая превосходное качество изображения и надежные оптические характеристики для требовательных приложений машинного зрения.
Поддерживая разрешения камер от 29 Мп до 65 Мп и размеры пикселей до приблизительно 3,2 мкм, объектив спроектирован для работы с высококачественными сенсорами, сохраняя высокую резкость изображения и низкое искажение. Благодаря большому изображаемому кругу и множеству вариантов фокусных расстояний, он предоставляет гибкие решения для систем прецизионного контроля, требующих широкого поля зрения и высоких оптических характеристик.
Серия объективов предлагает различные байонеты F, T, M58 и M72, что делает их подходящими для различных промышленных камер и платформ визуализации. В зависимости от модели диапазон увеличения составляет от приблизительно 0–0,2X до 0,15–1,0X, обеспечивая гибкость как для визуализации больших площадей, так и для детального контроля крупным планом.
Ключевые особенности
- Оптические характеристики высокого разрешения 65 Мп
- Разработан для камер с большой площадью сканирования и линейных сканеров
- Поддерживает высококачественные сенсоры от 29 Мп до 65 Мп
- Подходит для размеров пикселей до приблизительно 3,2 мкм
- Большой изображаемый круг для сенсоров большого формата
- Низкое оптическое искажение для прецизионной визуализации
- Множество фокусных расстояний от 25 мм до 80 мм
- Различные диапазоны увеличения для разных требований к контролю
- Доступен с байонетами F, T, M58 и M72
- Регулируемая диафрагма для гибкого управления освещением и глубиной резкости
- Идеально подходит для высокоточных промышленных систем машинного зрения
Области применения продукта
Этот объектив для машинного зрения большого формата подходит для широкого спектра приложений высококачественного контроля, включая:
- Контроль дисплеев LCD, LED и OLED
- Контроль экранов смартфонов и защитных стекол
- Контроль AOI и печатных плат (PCB)
- Контроль электронных компонентов
- Контроль солнечных панелей и фотоэлементов
- Контроль печати и поверхностей
- Прецизионные измерения и обнаружение дефектов
- Промышленная визуализация высокого разрешения
- Автоматизированный контроль машинным зрением
Технические характеристики продукта
| Модель |
EFL (мм)
|
Формат
|
WD (мм)
|
FFL (мм)
|
Байонет
|
|---|---|---|---|---|---|
|
VT-LEN58-2540MP65
|
25±5%
|
Ø46
|
100-∞
|
12/11.48
|
M58×P0.75
|
|
VT-LEN72-2540MP65
|
25±5%
|
Ø46
|
100-∞
|
12
|
M72×P0.75
|
|
VT-LEN58-3540MP65
|
35±5%
|
Ø42
|
150-∞
|
12/11.48
|
M58×P0.75
|
|
VT-LEN72-3540MP65
|
35±5%
|
Ø42
|
150-∞
|
12
|
M72×P0.75
|
|
VT-LEM42-5036MP65
|
50±5%
|
Ø32
|
80-2500
|
12/17.5
|
M42×P1.0
|
|
VT-LEN58-5036MP65
|
50±5% |
Ø46
|
80-2500
|
12/11.48 | M58×P0.75 |
|
VT-LEN72-5036MP65
|
50±5% |
Ø46
|
80-2500
|
12 | M72×P0.75 |
|
VT-LEN58-8036MP65
|
80±5% |
Ø46
|
235-2000
|
12/11.48 | M58×P0.75 |
|
VT-LEN72-8036MP65
|
80±5% |
Ø46
|
235-2000
|
12 | M72×P0.75 |
Скачивание объективов большого формата
